高低溫試驗(yàn)箱是檢測(cè)電子產(chǎn)品、芯片產(chǎn)品、航天航空產(chǎn)品的常見(jiàn)設(shè)備之一。大家在購(gòu)買(mǎi)咨詢(xún)相關(guān)業(yè)務(wù)人員時(shí)相信一定有遇到這樣問(wèn)題‘請(qǐng)問(wèn)，您的測(cè)試樣品有多大呢？’其實(shí)問(wèn)這個(gè)問(wèn)題的主要目的是為了能夠清楚的了解所推薦的型號(hào)是否能夠滿(mǎn)足需求。因?yàn)楦鶕?jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，測(cè)試樣品占試驗(yàn)箱容積的1/3為好。這是為什么呢？請(qǐng)聽(tīng)小編細(xì)細(xì)道來(lái)吧！
緣由一】、如果測(cè)試樣品置入箱體過(guò)滿(mǎn)就會(huì)擠占了流暢的通道，通道變窄將導(dǎo)致氣流流速的增加，加速氣流與被測(cè)試產(chǎn)品之間的熱交換。這與環(huán)境條件的再現(xiàn)不符，因?yàn)樵谟嘘P(guān)標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)涉及溫度環(huán)境試驗(yàn)都規(guī)定高低溫試驗(yàn)箱內(nèi)試驗(yàn)樣件周?chē)目諝饬魉俨粦?yīng)超過(guò)1.7m/s，以防止試驗(yàn)樣件和周?chē)鷼夥债a(chǎn)生不符合實(shí)際的熱傳導(dǎo)，在空載時(shí)試驗(yàn)箱內(nèi)平均風(fēng)速為0.6～0.8m/s，不超過(guò)1m/s，滿(mǎn)足以上要求所規(guī)定的空間及面積比時(shí)，流場(chǎng)的風(fēng)速可能增大(50～100)%，平均高風(fēng)速為(1～1.7)m/s，滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的要求。如果在試驗(yàn)中不加限制地加大被測(cè)試產(chǎn)品的體積或迎風(fēng)斷面積，則實(shí)際試驗(yàn)時(shí)氣流風(fēng)速將增大到超出試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的高風(fēng)速，其試驗(yàn)結(jié)果的有效性將受到懷疑。
緣由二】 根據(jù)高低溫試驗(yàn)箱的熱傳導(dǎo)原理，箱壁附近氣流的溫度通常與流場(chǎng)中心溫度相差2～3℃，在高低溫的上下*，還可能達(dá)到5℃。箱壁的溫度與箱壁附近流場(chǎng)的溫度又相差2～3℃(視箱壁的結(jié)構(gòu)和材料而定)，試驗(yàn)溫度與外界大氣環(huán)境相差越大，上述溫差也越大，因此，距箱壁(100～150mm)距離內(nèi)的空間是不可利用空間。
緣由三】、工作室內(nèi)環(huán)境參數(shù)的精度指標(biāo)都是在空載狀態(tài)下檢測(cè)的結(jié)果，一旦置入被測(cè)試產(chǎn)品后，對(duì)高低溫試驗(yàn)箱工作室內(nèi)環(huán)境參數(shù)的均勻性將產(chǎn)生影響，被測(cè)試產(chǎn)品占有的空間越大，這種影響也就越嚴(yán)重。實(shí)測(cè)試驗(yàn)數(shù)據(jù)表明，流場(chǎng)中迎風(fēng)面與背風(fēng)面的溫差可達(dá)到3～8℃，嚴(yán)重時(shí)可大到10℃以上。因此，必須盡量滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的要求，以保證被測(cè)試產(chǎn)品周?chē)h(huán)境參數(shù)的均勻性。
勤卓專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)高低溫試驗(yàn)箱/可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱/濕熱交變?cè)囼?yàn)箱/步入式老化房/高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱/高低溫快速溫變?cè)囼?yàn)箱/氙燈老化試驗(yàn)箱等環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備。
18925806924
